Zeta電位分析儀是一種常用于測試納米顆粒懸浮液中帶電顆粒表面電勢的儀器。它通過測量顆粒在電場中的移動速度，計算出顆粒的電荷量和電勢大小。基本原理是利用電泳現(xiàn)象，即帶電顆粒在電場中受到電荷作用力而發(fā)生運動。該儀器會施加待測樣品中的顆粒懸浮液一個外部電場，然后通過測量顆粒的運動速度來計算出其電勢大小。這個速度可以使用激光多普勒技術或相位分析方法來測量。
選購Zeta電位分析儀時的指南和考慮因素：
1、測量原理：了解不同型號的Zeta電位分析儀使用的測量原理。常見的方法包括激光多散射、隨機相位法和電動力學法。根據需要選擇適合的原理。
2、測量范圍：確定您所需的測量范圍。某些儀器具有更廣泛的測量范圍，從納米級到亞微米級。
3、樣品類型：考慮您要測試的樣品類型。某些儀器適用于液體樣品，而其他儀器可能適用于固體樣品。確保選擇與您研究對象相匹配的儀器。
4、樣品容量：根據您的實驗需求，確定所需的樣品容量。某些儀器適用于小容量樣品，而其他儀器適用于大容量樣品。
5、自動化功能：考慮儀器是否具有自動化功能。自動進樣、溫度控制和數(shù)據分析等功能可以提高實驗效率。
6、用戶友好性：選擇易于操作和設置的儀器。用戶界面應該直觀且易于導航，以便快速進行實驗并獲取準確的結果。
7、數(shù)據輸出和分析：了解儀器的數(shù)據輸出和分析選項。某些儀器可能提供實時結果顯示，而其他儀器則可能需要進一步處理或導出數(shù)據進行分析。
